证券之星消息,根据天眼查APP数据显示广立微(301095)新获得一项发明专利授权,专利名为“一种识别光刻缺陷热点图形的方法及图形结构”,专利申请号为CN1.2,授权日为2025年6月13日。
专利摘要:本发明提供了识别光刻缺陷热点图形的方法,包括:确定版图的待识别层;预设宽度范围,识别初始边;预设RightSpace范围和LeftSpace范围,识别Edge_out;将所述plg_out中,满足一侧边为Fit_width_e_LSW且另一侧边为Fit_width_e_RSW的多边形区域识别为plg_out_plus,即目标图形。本发明的方法能快捷准确的识别出光刻缺陷图形,利于改进生产工艺,步骤简洁。本发明还提供了一种光刻缺陷热点图形结构,能快速辨别图形是否有引起光刻缺陷风险。
今年以来广立微新获得专利授权38个,较去年同期增加了58.33%。结合公司2024年年报财务数据,2024年公司在研发方面投入了2.77亿元,同比增33.49%。
以上内容为证券之星据公开信息整理,由AI算法生成(网信算备240019号),不构成投资建议。
证券之星估值分析提示广立微盈利能力良好,未来营收成长性优秀。综合基本面各维度看,股价偏高。更多
以上内容与证券之星立场无关。证券之星发布此内容的目的在于传播更多信息,证券之星对其观点、判断保持中立,不保证该内容(包括但不限于文字、数据及图表)全部或者部分内容的准确性、真实性、完整性、有效性、及时性、原创性等。相关内容不对各位读者构成任何投资建议,据此操作,风险自担。股市有风险,投资需谨慎。如对该内容存在异议,或发现违法及不良信息,请发送邮件至,我们将安排核实处理。如该文标记为算法生成,算法公示请见 网信算备240019号。